Московский физико-технический институт (государственный университет)

Новости

RSS

Научный семинар МЦФИ

Очередное заседание научного семинара Междисциплинарного центра фундаментальных исследований состоится 19 мая (вторник) в 17:05 в МФТИ (Долгопрудный) в 525 аудитории главного корпуса МФТИ.

Повестка семинара:

1. Дмитрий Казанцев: "Безапертурный SNOM рассеяния иглой", ИТЭФ, Сколтех, Москва

2. Владимир Валентинович Лебедев: "Теория случайного оптоволоконного лазера" Сообщение об опубликованных недавно результатах статьи Nature Communications (Д.В.Чуркин, И.В.Колоколов, В.В.Лебедев, Е.В.Подивилов, И.Д.Ватник, М.А.Никулин, С.С.Вергелес, И.С.Терехов, Г.Фалькович, С.А.Бабин, С.К.Турицын)

Приглашаются студенты, аспиранты, научные работники и преподаватели!

 Аннотации докладов:

1. Доклад "Безапертурный SNOM рассеяния иглой"

В докладе представлены устройство и принцип работы безапертурного микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM). Игла атомно-силового микроскопа, с точки зрения радиофизика представляющая собой дипольную антенну-вибратор, обеспечивает эффективную связь колебаний зарядов в игле с падающими на нее волнами внешнего электромагнитного поля. Такая антенна позволяет подвести внешнее электромагнитное поле к объектам, расположенным на поверхности образца в зазоре непосредственно под острием иглы (характерный радиус закругления 1-30нм). Электромагнитные свойства этих объектов в зазоре (поляризуемость, поглощение) на частоте падающего света влияют на "условия заземления" макроскопического дипольного вибратора-антенны, образованного сканирующей иглой. Дипольные колебания, возбуждаемые падающей световой волной в игле, в свою очередь делают иглу источником излучаемых волн, которые могут быть надежно продетектированы во внешнем мире (например с помощью оптического гомодинирования). Таким образом, ASNOM предоставляет
возможность исследования оптических свойств поверхности с пространственным разрешением порядка 1-30н, вне зависимости от рабочей длины волны.
В качестве примера успешного применения ASNOM для исследования распределения диэлектрических свойств поверхности в докладе приводятся карты скола структуры, содержащей полупроводниковые транзисторы (германиевые и кремниевые). Показано, что метод ASNOM способен не только различать различные материалы (Si, W, SiO2, SiN, TiN), но даже области полупроводника, отличающиеся лишь уровнем легирования, по измеренной амплитуде и фазе оптического отклика иглы ASNOM.
Метод ASNOM может быть применен также для записи пространственного распределения величины электромагнитного поля (с его амплитудой и фазой) в бегущей фонон-поляритонной волне, возбуждаемой когерентной внешней световой волной на поверхности полярного кристалла. Показано, что в этом случае, благодаря удачному стечению обстоятельств, измеряемый сигнал ASNOM просто пропорционален амплитуде и фазе локального электромагнитного поля в точке расположения иглы. Пространственное разрешение метода и в этом случае составляет 20-40нм на использованной длине волны 10.6мкм.

2. Доклад "Теория случайного оптоволоконного лазера"
Развита теория, учитывающая нелинейность в генерации излучения оптоволоконным лазером, накачиваемым внешним источником света. Энергия накачки конвертируется в генерируемый сигнал за счет комбинационного рассеяния, которое обеспечивает усиление
сигнала. Сигнал генерируется с частотами вблизи максимума коэффициента усиления. Исследованы условия генерации и спектральные свойства сигнала. Мы концентрируемся на рассмотрении случайного лазера, где отражение обусловлено примесями. С теоретической точки зрения, исследуется кинетика системы, близкой к интегрируемой. В этом случае теория возмущений, ведущая к кинетическому уравнению, оказывается сильно модифицированной близостью к интегрируемости.

 

Контакты

141700, Московская облаcть,
г. Долгопрудный,
Институтский пер., 9.
+7 (495) 408-45-54
info@mipt.ru

ЗФТШ

Заочное отделение:
+7 (495) 408-51-45
Очное отделение:
+7 (499) 755-55-80

Магистратура

+7 (495) 408-48-00
+7 (906) 715-44-49
magistr@mipt.ru